检索
高级检索
书目浏览
中图分类浏览
科图分类浏览
特色馆藏浏览
我的图书馆
网上办证
新书通报
中图分类查看
科图分类查看
图书荐购
语言:
English
中文
登录
语言:
中文
English
登录
前方一致
模糊检索
精确检索
任意词
题名
正题名
ISBN/ISSN
著者
主题词
分类号
控制号
订购号
出版社
索书号
q=%E5%BE%AE%E7%94%B5%E5%AD%90%E5%99%A8%E4%BB%B6%E5%8F%AF%E9%9D%A0%E6%80%A7&searchType=standard&isFacet=true&view=standard&rows=10&sortWay=score&sortOrder=desc&searchWay0=marc&logical0=AND
rows=10&searchWay0=marc&logical0=AND
名称:
描述:
公开/私有:
公开
私有
标题:
描述:
公开/私有:
公开
私有
检索词:
微电子器件可靠性
, 检索到: 4 条结果, 检索时间: 0.09 秒 , 排序选项:
匹配度
出版日期
主题词
题名
著者
索书号
题名拼音
借阅次数
续借次数
题名权重
正题名权重
卷册号
排序方式:
降序排列
升序排列
隐藏分类导航
微电子器件可靠性
CADAL电子资源
集群图书馆
分类导航
T 工业技术
(4)
分面检索
图书馆
从化区图书馆
(1)
广州图书馆
(1)
南沙区图书馆
(2)
越秀区图书馆
(1)
显示更多..
主题
微电子技术
(3)
影响
(2)
温度
(2)
系统可靠性
(2)
可靠性
(1)
可靠性-电子器件-微电子技术
(1)
微电子技术-电子器件-可靠性
(1)
电子器件
(1)
电子器件-微电子技术-可靠性
(1)
研究
(1)
纳米材料
(1)
显示更多..
著者
(美)pradeep lall,(美)michael g. pecht,(美)edward b. hakim著
(2)
佩希特
(2)
刘汝军
(2)
哈基姆
(2)
张德骏
(2)
拉尔
(2)
贾颖
(2)
贾颖,张德骏,刘汝军译
(2)
刘红侠
(1)
庄奕琪
(1)
庄奕琪主编
(1)
郝跃
(1)
郝跃, 刘红侠著
(1)
显示更多..
出版日期
2008
(3)
1996
(1)
显示更多..
文献类型
图书
(4)
显示更多..
语言种类
汉语
(4)
显示更多..
保存至书单:
创建新书单
共 1 页
首页
<上一页
1
下一页>
尾页>>
1.
微电子器件应用可靠性技术
快递借书
订购中
著者:
庄奕琪
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 1996.5
文献类型:
图书
在馆信息
电子资源
图书信息概览
2.
微纳米MOS器件可靠性与失效机理
快递借书
已借2次.
订购中
著者:
郝跃
刘红侠
出版社:
科学出版社
出版日期: 2008
文献类型:
图书
在馆信息
电子资源
图书信息概览
3.
温度对微电子和系统可靠性的影响
快递借书
订购中
著者:
拉尔
佩希特
哈基姆
出版社:
国防工业出版社
出版日期: 2008
文献类型:
图书
在馆信息
电子资源
图书信息概览
4.
温度对微电子和系统可靠性的影响
快递借书
已借2次.
订购中
著者:
拉尔
佩希特
哈基姆
出版社:
国防工业出版社
出版日期: 2008
文献类型:
图书
在馆信息
电子资源
图书信息概览
共 1 页
首页
<上一页
1
下一页>
尾页>>